Stoni XRF

Stoni XRF donosi laboratorijske XRF sisteme američkog proizvođača Bowman (Bowman Analytics), specijalizovanog za merenje debljine prevlaka i elementarnu analizu. Sistemi koriste silicijumske drift detektore i pokrivaju širok raspon primena — od elektroplatiranih prevlaka i alatnih čelika, preko elektronskih komponenti, olovnih okvira i poluprovodničkih pločica (wafer), do velikih metalnih delova. Instrumenti su usklađeni sa IPC 4552 standardom i omogućavaju istovremeno merenje supstrata i do 4 sloja prevlake, uključujući ultra-tanke filmove. Dostupni su modeli prilagođeni različitim veličinama uzoraka i zahtevima preciznosti pozicioniranja, uz podršku za RoHS analizu.