NANOS stoni SEM (skenirajući elektronski mikroskop) – Semplor
NANOS stoni SEM (skenirajući elektronski mikroskop) – Semplor
NANOS stoni SEM (skenirajući elektronski mikroskop) – Semplor

NANOS stoni SEM (skenirajući elektronski mikroskop) – Semplor

NANOS je kompaktan stoni skenirajući elektronski mikroskop (SEM) holandskog proizvođača Semplor, razvijen od strane inženjera sa preko 200 godina zajedničkog iskustva u vodećim kompanijama iz oblasti elektronske mikroskopije (Philips, FEI, ASML). Sistem obezbeđuje profesionalne SEM performanse bez operativne kompleksnosti tradicionalnih, podnih instrumenata — bez potrebe za clean room prostorom, posebnom infrastrukturom ili vibracionom izolacijom.

NANOS je namenjen laboratorijama koje žele da smanje zavisnost od eksternih SEM usluga ili da rasterete veće, podne instrumente rutinskim analizama. Zahvaljujući malim dimenzijama i jednostavnoj instalaciji, uklapa se u standardno laboratorijsko okruženje.

Primena: materijali (metali, keramika, polimeri, kompoziti), geologija i rudarstvo, analiza čestica i poroznosti, analiza vlakana i azbesta (uklj. usklađenost sa EU Direktivom 2023/2668), forenzička istraživanja, analiza premaza i površina, medicinski uzorci i kvalitet materijala, baterijska industrija, tekstil i biologija. Sistemi su instalirani u istraživačkim institucijama, industrijskim laboratorijama i objektima odbrambene i vazduhoplovne industrije u preko 30 zemalja.

Sajt proizvođača
Kategorije: ,

Ključne karakteristike:

  • Rezolucija <8 nm, uz opseg uvećanja od 100x do 200.000x
  • Tri integrisana detektora u jednom uređaju: SED (detektor sekundarnih elektrona) za topografsko snimanje površine, 4-kvadrantni BSD (detektor povratno-rasejanih elektrona) za kompozicioni kontrast, i ugrađeni EDS za elementarnu analizu
  • EDS detektor: silicijumski drift detektor (SDD), aktivna površina 30 mm², energetska rezolucija <132 eV @ Mn Kα, maksimalna brzina brojanja 300.000 cps
  • Mod niskog vakuuma (40 Pa) koji smanjuje efekat naelektrisanja na nevodljivim uzorcima, često eliminišući potrebu za naparivanjem (sputter coating)
  • Eucentrični nagibni sto sa motorizovanim X, Y pomeranjem (25 × 25 mm) i ručnim nagibom do 55°, uz zadržavanje fokusa uzorka tokom nagiba
  • Korisnik sam menja elektronski izvor (volframska nit) za nekoliko minuta, bez potrebe za servisnom intervencijom — životni vek preko 1.000 radnih sati u ECO režimu
  • Čista vakuumska komora bez pokretnih mehaničkih delova unutar komore, čime se eliminiše rizik od kontaminacije
  • Optička navigaciona kamera u boji za brzu identifikaciju regiona od interesa pre prelaska na elektronsko snimanje
  • Podesivi naponi ubrzanja od 1 do 20 kV, prilagodljivi različitim tipovima uzoraka
  • Rezolucija snimka do 4096 × 4096 piksela (4K), izvoz u JPEG, TIFF, PNG i BMP formatu
  • Softverska platforma Discover — jedinstven, intuitivan interfejs za SEM snimanje i EDS analizu, isporučen na 27″ all-in-one računaru
  • Opciони softverski moduli Discover EDS (live elementarno mapiranje, kvantifikacija) i Explore Apps (automatizovana analiza čestica, vlakana i 3D rekonstrukcija površine)